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Rasterelektronenmikroskope:

JEOL SEM Series

Ein REM für alle Fälle: Oberflächenstruktur und Elementanalytik für Einsteiger bis Profis

JEOL (Germany) GmbH

Breite Anwenderpalette vom Einsteiger-Tischgerät bis zum hochauflösenden Feldemitter

Langlebige Messgeräte, exzellente Datengewinnung, kompakte Stellmaße

Effiziente, zuverlässige Serviceverträge und individuelle Zubehöroptionen (EDX,WDX,EBSD,GatherX,etc)

Auf der Suche nach dem„One-and-only-Tool“ für viele Anwendungen?In JEOL’s REM-Welt werden Sie fündig

Ob Untersuchung neuer Mikrochips, Aufdecken komplizierter biologischer Strukturen, Polymerforschung, Asbest-, Schmauchspur- oder Schadensanalyse – mit der Entscheidung für ein modernes Rasterelektronenmikroskop von JEOL liegen Sie immer richtig!

Die von JEOL entwickelten REMs decken R&D-Anforderungen von nm- bis sub-nm-Bereich ideal ab. Mit Flexibilität und Optionsvielfalt und einer außergewöhnlich langen Lebensdauer eignen sich JEOL-Geräte perfekt in Qualitätssicherung und Produktentwicklung – in Industrie, Forschung und Lehre. Von unserem leistungsstärksten Flaggschiff-Feldemissions-REM mit ultimativer Auflösung, Vergrößerung und analytischer Flexibilität bis hin zum benutzerfreundlichen Tisch-REM der Einstiegsklasse bietet JEOL auch für Ihre Fragestellung das passende Messgerät.

Die jüngste Generation der JEOL-REMs verfügt über ein Höchstmaß an integrierter, intelligenter Technologie. Unsere JEOL-REMs der neuen Generation erleichtern die Datenerfassung für alle Probentypen. Automatisierungsgrad, Bedienbarkeit, schnelle, hochauflösende Bildgebung und Analyse werden Sie begeistern.

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Alle JEOL REMs lassen sich optimal an die jeweiligen Anwendungen anpassen und werden so jeder Anforderung gerecht.

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Feldemissions-REMs: JSM-IT800 Ultrahochauflösendes FEG-REM mit der fortschrittlichsten hochauflösenden Analysetechnologie, die heute verfügbar ist

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Das JSM-IT210 ist ein kompaktes Mikroskop mit automatisiertem Workflow, das neue User Schritt für Schritt von Probeneinsatz zum perfekten Bild führt.

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Hochauflösendes,vielseitiges FEG-REM mit großer Kammer. Intelligente, flexible und leistungsstarke Performance zu hervorragender Preis-Leistungs-Ratio

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Ausgeklügelte Technologie mit einfacher Bedienung bietet Nutzern aller Erfahrungslevel hervorragende REM-Bilder und Elementanalysen in wenigen Minuten

Erleben Sie dieses Produkt live auf der Messe

analytica
09.04.2024 - 12.04.2024 München | Halle A2, Stand 212

Produkteinordnung JEOL SEM Series

Anwendungen

Elektronenmikroskopie
hochauflösende Bildgebung
Mikrostrukturanalyse
Rasterelektronenmikroskopie
Schadensanalyse
Schichtanalyse
Strukturanalysen
Texturanalysen
Umweltanalyse

Produktkategorien

Zielbranchen

Biotechnologie
Chemie
Getränke
Kunststoffe
Lebensmittel
Pharma

Jetzt Informationen zu JEOL SEM Series anfordern

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