TIRF

TIRFM (Total internal reflection fluorescence microscopy) ist eine Methode der Mikroskopie, um Strukturen zu untersuchen, die sich sehr nahe (ca. 200 nm) an Oberflächen befinden. Man verwendet einen Lichtstrahl, der im Objektträger total reflektiert wird - lediglich eine evaneszente Welle dringt exponentiell abfallend ins Medium ein und regt in diesem sehr schmalen Bereich die Fluoreszenz an. Mit dieser Methode lassen sich z. B. Zellen auf Oberflächen untersuchen, bei denen normalerweise das oberflächennahe Signal vom Hintergrundstreulicht überdeckt werden würde.