Microscopie STED à domaine de fréquence pour la suppression sélective du bruit de fond
Une nouvelle méthode supprime le bruit de fond en microscopie STED de manière sélective et efficace, avec un potentiel d'intégration dans d'autres techniques de balayage ponctuel à double faisceau
08.07.2022 -
La nanoscopie décrit la capacité de voir au-delà de la limite optique généralement acceptée de 200 à 300 nm. La microscopie à déplétion par émission stimulée (STED), développée par Stefan W. Hell et Jan Wichmann en 1994, et démontrée expérimentalement par Hell et Thomas Klar en 1999, est une ...
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