Partikelgrößenverteilung mit Laserbeugung messen: von 10 nm – 3.500 µm mit nur 2 Mausklicks

Die Top-3-Vorteile des Produkts
1

Partikelmessgerät für die echte Erkennung und Partikelgrößenanalyse bis hinunter zu 10 nm

2

Präzisere Rohdatenerfassung und erhöhte Detektorempfindlichkeit für sub-μm-Partikelgrößenanalyse

3

Optimierte und intuitive Software erfordert nur zwei Klicks vom Start der Messung bis zum Ergebnis

Dank erstklassiger Daten erkennen Sie kleinere Unterschiede in den Proben schneller & zuverlässiger

Der Partikelanalysator LS 13 320 XR von Beckman Coulter hebt die Partikelanalyse mittels Laserbeugung auf ein neues Niveau. Die verbesserte PIDS-Technologie und der erweiterte Messbereich sorgen für eine höhere Auflösung und genauere, reproduzierbare Ergebnisse bei der Bestimmung der Partikelgröße. Dank der präziseren Rohdatenerfassung und erhöhten Detektorempfindlichkeit für sub-μm-Partikelgrößenanalyse erhalten Sie erstklassige Daten zur Partikelgrößenverteilung. So messen Sie ein breiteres Spektrum an Partikeln und erkennen kleinere Unterschiede in den Proben schneller und zuverlässiger.

Dank intuitiver Software-Oberfläche liefert Ihnen dieses Partikelmessgerät mit wenigen Klicks die Daten, die Sie benötigen – natürlich 21-CFR-Part-11-konform und damit ideal für die Partikelanalyse unter zertifizierten Bedingungen. Der Partikelanalysator unterstützt Sie darüber hinaus mit automatischer Richtig-/Falsch-Visualisierung zur sofortigen Qualitätskontrolle und mit GMP-konformen Tools zur Installationsqualifizierung (IQ) und Betriebsqualifizierung (OQ).

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